TESCAN AMBER

FIB-SEM nanoanalytique polyvalent pour étendre vos capacités de recherche sur les matériaux

-Préparation de micro-échantillons de haute précision

- Imagerie et nanoanalyse SEM sans champ ultra-haute résolution

- Champ de vision étendu et navigation facile

- Automatisation des processus multi-sites

-Tomographie FIB-SEM multimodale

- Interface utilisateur logicielle modulaire facile à utiliser

- Packs optionnels attractifs pour diverses applications