TESCAN AMBRE X

TESCAN AMBRE X
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Une combinaison unique de Plasma FIB et de FE-SEM UHR sans champ pour la caractérisation multi-échelle des matériaux

- Haut débit, traitement FIB de grande surface jusqu'à 1 mm

- Préparation de microéchantillons sans Ga

- Imagerie et analyse FEG-SEM sans champ ultra-haute résolution

- Détection SE et BSE dans l'objectif

- Optimisation de la résolution pour la tomographie FIB-SEM multimodale à haut débit

- Champ de vision supérieur pour une navigation facile

- Interface utilisateur graphique modulaire facile à utiliser Essence™

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