TESCAN CLARA

TESCAN CLARA
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MEB UHR analytique sans champ pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique.

- Caractérisation sans compromis de tous types de matériaux à l'échelle nanométrique

- Idéal pour la caractérisation des matériaux à faible énergie de faisceau pour une topographie de surface maximale

- Excellente imagerie des échantillons sensibles au faisceau et non conducteurs

- Configuration entièrement automatisée du faisceau d'électrons - des conditions d'imagerie optimales sont garanties par le In-Flight Beam Tracing™

- Navigation SEM en direct intuitive sur l'échantillon à un grossissement aussi faible que 2× sans avoir besoin d'une caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception Wide Field Optics™

- Conception unique de multidétecteurs In-Beam permettant une détection sélective de l'angle et de l'énergie de l'ESB

- Plate-forme logicielle modulaire intuitive conçue pour un fonctionnement sans effort, quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs

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