TESCAN MAGNA

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MEB UHR pour la caractérisation des nanomatériaux à l'échelle sub-nanométrique

- Imagerie haute résolution et à contraste élevé de matériaux de nouvelle génération (par exemple, structures catalytiques, nanotubes, nanoparticules et autres structures à l'échelle nanométrique)

- Excellente plateforme adaptée à la métrologie SEM/STEM à l'échelle sub-nanométrique

- Configuration rapide du faisceau d'électrons - des conditions d'imagerie optimales sont garanties par le In-Flight Beam Tracing™

-Système multi-détecteurs TriBE™ et TriSE™ pour la nanocaractérisation d'échantillons

-Plate-forme logicielle modulaire intuitive conçue pour un fonctionnement sans effort quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs

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